Viscosizer 200
Messgerät zur Bestimmung der Partikelgröße mittels micro electro-mechanical systems
Viscosizer 200, Partikelgröße, Particle buoyant mass, Particle dry mass
prager-elektronik.atViscosizer 200
Measuring instrument for determining particle size by micro electro-mechanical systems
Viscosizer 200, Partikelgröße, Particle buoyant mass, Particle dry mass
prager-elektronik.atvery simple analysis of drives and drive synthesis ;
introduction to the vibration dynamics of elastic-mechanical systems Überblick über die mechanische Dynamik mit folgenden Schwerpunkten:
- Statics - Force and Inertia - Kinematics - Rotational kinematics Empfohlene Fachliteratur:
www.fh-kaernten.atvery simple analysis of drives and drive synthesis ;
introduction to the vibration dynamics of elastic-mechanical systems Overview about mechanical dynamics focusing on the following topics:
- Statics - Force and Inertia - Kinematics - Rotational kinematics recommended or required reading:
www.fh-kaernten.atUnsere Leistungen für unseren Kunden umfassen die Designanpassung, kostengünstige Herstellung erster serienreifer MEMS-Scanner, Vorbereitung des Prozess-Transfers zu einer geeigneten Foundry, Entwicklung des Ansteuerverfahrens und der Aufbau- und Verbindungstechnik sowie die Entwicklung und Durchführung von Zuverlässigkeitsuntersuchun...
Die »Nagelprobe« für den komplexen Herstellungsprozess ist die Ausbeute der mechanisch schwingenden Komponenten (mechanical yield).
Dazu wurden elektrisch-optische Testmethoden entwickelt, die eine 100% Prüfung der Scannerspiegel auf Waferniveau ermöglichen.
www.ipms.fraunhofer.deOur services for our customers encompass design customization, cost-effective fabrication, fabrication-ready MEMS scanners, process transfer to a suitable Foundry, development of device drivers ( hardware and software ), assembly and packaging, and the design and execution of reliability investigations.
The proof of the pudding for complex manufacturing processes is device yield.
For mechanically oscillating components such as these single-mirror devices, electro-optical methods have been developed which allow 100% inspection at the wafer level.
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